一、概述

       EM5030/EM5030LF系列探頭組包含了7個(gè)專門用來測(cè)試磁場(chǎng)（H）探頭，它有效地屏蔽了電場(chǎng)干擾（E），主要用于電磁兼容整改時(shí)定位干擾源的近場(chǎng)探頭。EM5030的頻率范圍是30MHz-3GHz，共4種探頭形狀；EM5030LF的頻率范圍是9kHz-50MHz，共3種探頭形狀。探頭通過 50Ω的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。當(dāng)產(chǎn)品的輻射或傳導(dǎo)干擾超過標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，可用近場(chǎng)探頭來尋找產(chǎn)品中哪個(gè)元件或電路產(chǎn)生了該頻率的干擾，能夠檢測(cè)模塊之間的耦合通道以及評(píng)估系統(tǒng)內(nèi)信號(hào)切換速率、RF 電壓等。當(dāng)干擾信號(hào)比較弱時(shí)，可以配合 EM5020A(20dB 增益)或者 EM5020B(30dB 增益)前置射頻射頻放大器可以提高系統(tǒng)測(cè)試靈敏度。

二、近場(chǎng)探頭EM5030LF規(guī)格表

三、近場(chǎng)探頭EM5030LF應(yīng)用

(1）EMI 輻射干擾源定位

(2）電磁場(chǎng)強(qiáng)度檢測(cè)

四、操作方法

1、初步掃描： 使用近場(chǎng)探頭對(duì)EUT進(jìn)行初步掃描，覆蓋設(shè)備的各個(gè)區(qū)域。記錄下所有超出限制的頻點(diǎn)和信號(hào)強(qiáng)度，這一步有助于快速識(shí)別潛在的EMI問題。

2、詳細(xì)測(cè)量： 對(duì)初步掃描中發(fā)現(xiàn)的異常頻點(diǎn)進(jìn)行詳細(xì)測(cè)量，調(diào)整RBW和VBW以獲得更高的頻率分辨率。逐步移動(dòng)探頭，并觀察頻譜儀上的信號(hào)變化，記錄每個(gè)頻點(diǎn)的峰值功率、電平和頻率。

3、定位干擾源： 通過逐步縮小探頭的掃描范圍，可以精確定位干擾源的位置。對(duì)于復(fù)雜電路板，可以利用電場(chǎng)探頭和磁場(chǎng)探頭交替測(cè)量，以判斷干擾信號(hào)的性質(zhì)和源頭。

4、遠(yuǎn)近結(jié)合： 如果找到了一些明顯的干擾源，可以進(jìn)一步結(jié)合遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，以確認(rèn)這些干擾是否會(huì)傳導(dǎo)到設(shè)備外部，并最終影響到周圍環(huán)境。

五、其它型號(hào)

       EM5030E系列探頭組包含了2個(gè)專門用來測(cè)試電場(chǎng)(E)的探頭，覆蓋頻率范圍為30MHz到3GHz，主要應(yīng)用于查找電場(chǎng)干擾源，除了探頭其他部分均為屏蔽設(shè)計(jì)。